8-инчна силицијумска плочица P/N-типа (100) 1-100Ω лажна подлога за регенерацију

Кратак опис:

Велики инвентар двострано полираних плочица, све плочице пречника од 50 до 400 мм. Ако ваша спецификација није доступна на нашем лагеру, успоставили смо дугорочне односе са многим добављачима који су у могућности да израде плочице по мери како би одговарале било којој јединственој спецификацији. Двострано полиране плочице могу се користити за силицијум, стакло и друге материјале који се обично користе у полупроводничкој индустрији.

Пошаљите нам имејл

Детаљи производа

Ознаке производа

Увођење кутије за вафле

Силицијумска плочица од 8 инча је често коришћени материјал за силицијумску подлогу и широко се користи у процесу производње интегрисаних кола. Такве силицијумске плочице се обично користе за израду различитих врста интегрисаних кола, укључујући микропроцесоре, меморијске чипове, сензоре и друге електронске уређаје. Силицијумске плочице од 8 инча се обично користе за израду чипова релативно великих величина, са предностима које укључују већу површину и могућност израде више чипова на једној силицијумској плочици, што доводи до повећане ефикасности производње. Силицијумска плочица од 8 инча такође има добра механичка и хемијска својства, што је погодно за производњу интегрисаних кола великих размера.

Карактеристике производа

8" P/N тип, полирана силицијумска плочица (25 ком)

Оријентација: 200

Отпорност: 0,1 - 40 ом•цм (Може да варира од серије до серије)

Дебљина: 725+/-20ум

Прајм/Монитор/Тест разред

МАТЕРИЈАЛНА ОСОБИНА

Параметар	Карактеристика
Тип/допант	P, бор N, фосфор N, антимон N, арсен
Оријентације	<100>, <111> оријентације сечења према спецификацијама купца
Садржај кисеоника	10¹⁹ppmA Прилагођене толеранције према спецификацији купца
Садржај угљеника	< 0,6 ppmA

МЕХАНИЧКА СВОЈСТВА

Параметар	Главни	Монитор/Тест А	Тест
Пречник	200±0,2 мм	200 ± 0,2 мм	200 ± 0,5 мм
Дебљина	725±20µm (стандардно)	725±25µm (стандардно) 450±25µm 625±25µm 1000±25µm 1300±25µm 1500±25 µm	725±50µm (стандардно)
ТТВ	< 5 µm	< 10 µm	< 15 µm
Лук	< 30 µm	< 30 µm	< 50 µm
Замотај	< 30 µm	< 30 µm	< 50 µm
Заокруживање ивица	ПОЛУСТАНДАРД
Означавање	Само примарне ПОЛУ-равне, ПОЛУ-СТАНДАРДНЕ равне Џеида равне, зарез

Параметар	Главни	Монитор/Тест А	Тест
Критеријуми предње стране
Стање површине	Хемијско механичко полирање	Хемијско механичко полирање	Хемијско механичко полирање
Храпавост површине	< 2 Å	< 2 Å	< 2 Å
Контаминација Честице @ >0,3 µm	= 20	= 20	= 30
Измагла, јаме Кора поморанџе	Ниједан	Ниједан	Ниједан
Тестера, ознаке Бразирање	Ниједан	Ниједан	Ниједан
Критеријуми задње стране
Пукотине, боре око очију, трагови тестере, мрље	Ниједан	Ниједан	Ниједан
Стање површине	Каустично гравирано